文献类型:专著 浏览次数:24
  • 题名:一板成功.高速电路研发与设计典型故障案例解析
  • 责任者:张晶威编著
  • 出版社清华大学出版社
  • 出版年:2022
  • ISBN:978-7-302-58923-5
  • 定价:39.00
  • 载体形态项:127页 24cm
  • 个人责任者:张晶威编著
  • 学科主题:印刷电路
  • 中图法分类号:TN410.2
  • 提要文摘附注:本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。
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