文献类型:专著 浏览次数:2
  • 题名:集成测试框架.用Fit进行敏捷软件测试
  • 责任者:(美) Rick Mugrideg, Ward Cunningham著
  • 出版社电子工业出版社
  • 出版年:2007
  • ISBN:978-7-121-04094-8
  • 定价:45.00
  • 载体形态项:xvi, 355页 23cm
  • 个人责任者:坎宁安著、穆格雷珠著
  • 学科主题:软件工具
  • 中图法分类号:TP311.56
  • 提要文摘附注:本书展示了如何通过Fit解释业务规则, 利用具体示例予以表达, 并将示例组织到测试表格里, 将测试驱动贯穿于整个软件开发生命周期中。本书从现有的实践开始, 对软件开发的两大方面进行改进, 来提高开发人员的适应性及敏捷性。
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