课程参考书详细

课程：微电子器件可靠性技术基础 教师：由永慧 院系：信息工程学院 参考书总数：1
题名 责任者 出版信息 索书号 操作
1 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 郝跃, 刘红侠著 科学出版社 2008.03 TN4/H396
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